品質管理機器一覧 | 貴金属加工

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品位分析

ICP発光分光分析装置
原子吸光光度計
蛍光X線分析装置
X線分析装置（EDX）

組織観察

デジタルマイクロスコープ
金属顕微鏡
レーザー顕微鏡

表面分析

走査型電子顕微鏡（SEM）
X線回折測定装置（XRD）
フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）
比表面積測定装置
表面粗さ計
分光測色計

内部欠陥分析

超音波探傷機

物性測定

引張試験機
硬度計
粒度分布測定装置
粉体密度測定装置

有機化合物の分析、
分離

液体、ガスクロマトグラフ

超音波探傷検査による
内部欠陥検査

金属顕微鏡による組織観察

デジタルマイクロスコープによる
3D観察


FE-SEM画像　倍率×2,000倍	レーザー顕微鏡